日本HIOKI日置C电容测试仪3506
特点:
1. 反复测量精度更高,最适合生产线
2. 校正维修功能,减低由环境的温度变化影响
3. 测量导线的过长引起的阻抗变化,阻抗补正功能
4. 比测仪的设定值和测定值的同步显示
5. 2ms的高速测量;1kHz,1MHz 测量
6. 根据BIN的测定区分容量
7. 比测仪和触发器同步输出功能
8. 对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
技术参数:
测量参数
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C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ)
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测量范围
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C:0.00000pF ~15.0000mF
D: 0.00001 ~1.99999
Q:0.0 ~19999.9
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基本确度
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(代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
※测定确度= 基本确度× B×C× D×E, B~Eは各系数
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测量频率
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3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz, 3506: 1kHz, 1MHz
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测量信号电平
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500mV, 1V rms
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输出电阻
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1Ω(在2.2mF以上的测量范围: 1kHz;在 22nF以上的测量范围: 100kHzs),
20Ω 上述测量范围以外)
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显示
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LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)
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测量时间
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代表值: 2.0 ms ( FAST)
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
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机能
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BIN 分选测量功能, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能,
平均机能, Low-C抵抗机能, 震动机能,电流检测功能,输入电压检测机能,
EXT I/O 输入/输出, RS-232C接口, GP-IBイ接口
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电源
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AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大40VA
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体积及重量
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260W ×100H × 298Dmm, 4.8kg
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附件
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电源线×1, 电源备用保险丝× 1
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