一、日本KURABO红外线测厚仪RX-200特点:
1、节省空间(在线)
因为是小型传感器头,故不受放置空间约束。只需占用现有生产线上的狭小空间。
2、瞬间测量
无需任何前处理。且可实现非破坏、非接触的瞬间测量。
3、广泛的适应性
通过由最大6波长组成的滤光器,可以测量各种材质的膜厚及水分。
4、出众的测量精度
通过采用本公司独自的P偏光方式,即使是几μm以下的薄膜,也可得到稳定的测量结果。
5、拥有值得信赖的长期稳定性
根据周围环境和装置的变动,采用3波长测光方式确保长期性的精度。
二、日本KURABO红外线测厚仪RX-200用途:
LCD用光学薄膜测厚
聚合电池的隔离板测厚
彩色显像管荫罩的感光乳剂测厚
铝箔上的乙烯涂层测厚
防雾加工薄膜的防雾剂涂层测厚
复合膜的粘合剂涂层测厚
收缩标签的脱胶检查等
钢板上的有机附着量测量
三、日本KURABO红外线测厚仪RX-200规格参数:
项目
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规格
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测量方法
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红外线反射吸收式
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分光方式
|
旋转过滤器方式(可以实际安装6张)
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测量距离
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25mm(从本体部下面)
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测量面积
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5×8mm(椭圆)
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尺寸、重量、电源
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传感器头
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230(W)×134(D)×90(H)、约4.5kg(不含突起部)
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数据处理部
|
275(W)×300(D)×165(H)、约6.7kg(不含突起部)
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中继单元部
|
250(W)×140(D)×113(H)、约3kg(不含突起部)
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外部输出
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从模拟0~10v 到4~20mA进行选择(出厂时设定)
|
环境温度
|
0~40℃(没有结露)
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电源
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AC100V±10% 50/60Hz
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日本KURABO红外线测厚仪RX-200规格参数:
项目
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规格
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测量方法
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红外线反射吸收式
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分光方式
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旋转过滤器方式(可以实际安装6张)
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测量距离
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25mm(从本体部下面)
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测量面积
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5×8mm(椭圆)
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尺寸、重量、电源
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传感器头
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230(W)×134(D)×90(H)、约4.5kg(不含突起部)
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数据处理部
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275(W)×300(D)×165(H)、约6.7kg(不含突起部)
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中继单元部
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250(W)×140(D)×113(H)、约3kg(不含突起部)
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外部输出
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从模拟0~10v 到4~20mA进行选择(出厂时设定)
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环境温度
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0~40℃(没有结露)
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电源
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AC100V±10% 50/60Hz
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